Собственная компенсация в радиационно-стойких микросхемах на основе базового матричного кристалла АБМК_1_3
Авторы:
Аннотация:
Рассмотрены особенности применения принципа собственной компенсации влияния доминирующих паразитных параметров компонентов АБМК на характеристики аналоговых ИС. Вводимые в схему дополнительные компоненты образуют новые структуры с контурами обратных связей, уменьшающими соответствующие параметрические чувствительности. Приведены демонстрационные примеры построения фрагментов принципиальных схем. Показана эффективность метода.